Patent Classification(クラシフィケーション) | LexisNexis。AI classification of wafer map defect patterns by using dual。Pattern Classification for Mixed Feature-Type Symbolic Data Using。パターン識別 Patten Classfication Second EditionRicard O.Duda Peter E.Hart Daivid G.Stork 監訳:尾上守夫大型本: 659ページ言語: 日本語ISBN-10: 4915851249発売日: 2001/7/3John Wiley & Sons 新技術コミュニケーション2001年の発売だたんですね。感動します。定価10,000円とあります。値引き交渉は致しません。ご了承下さい。ご検討の程、よろしくお願いします。。。k*y様 The Undocumented PC 第二版。ソフトウェア設計 名著3冊セット|言語設計者たちが考えること 他2冊。多変量解析実例ハンドブック。Sorting and searching : 日本語版。【新品未開封品】富士フイルムDocuWorks10ライセンス認証版5ライセンス版